Image

Научно-исследовательская лаборатория «Сборка и испытания электронных компонентов»

О нас Научно-инновационная деятельность Оборудование

Научно-исследовательская лаборатория «Сборка и испытания электронных компонентов» сформирована для осуществления сборки и испытаний микросхем и датчиков в корпуса, проведения измерений электрических и функциональных параметров готовых изделий.

На данный момент проходит завершающий этап по созданию инжинирингового центра проектирования и изготовления приборов и систем с применением технологий 3D-интеграции и специализированных электронных компонентов. Это технология, которая позволяет создавать системы с высокой степенью интеграции путем вертикальной укладки друг на друга и соединения различных слоев, в частности, полупроводниковых кристаллов.

Центр оснащен комплектом новейшего оборудования от ведущих мировых фирм-производителей.

НИЛ ЭК сертифицирована в соответствии с требованиями ГОСТ РВ 15.002-2003 и РД В 319.015-2006 на сборку и испытания интегральных микросхем, полупроводниковых приборов, что позволяет осуществлять производство для нужд Минобороны и проводить работы для «5» приемки.

Испытательный центр аккредитован на соответствие требованиям ГОСТ ИСО/МЭК 17025-2009 и РД В 319.006-97 на право проведения сертификационных испытаний электронной компонентной базы отечественного и иностранного производства.

НИЛ ЭК проводит следующие работы:

  • Проведение сборки кристаллов микросхем или датчиков в металлокерамические корпуса в серийном объеме на автоматизированном оборудовании.
  • Отработка технологий сборки и штучный выпуск специфических изделий на лабораторном оборудовании.
  • Проведение отдельных операций, не входящих в основные маршруты (например, плазменная очистка, вакуумная пайка).
  • Проведение некоторых видов испытаний по методам, не входящим в основные маршруты (например, рентгеновский контроль)
  • Проведение измерений электрических и функциональных параметров кристаллов микросхем и датчиков в составе пластин и готовых изделий в корпусах.
  • Проведения сертификационных испытаний электронной компонентной базы
  • Сборка промежуточных коммутационных пластин с TSV-каналами
  • Технология обратного монтажа чипов
  • Создание систем в корпусе

Оборудование

  • Комплекс для заполнения зазора компаундом между подложкой и кристаллом, AeroJet MUSASHI Engineering, Япония
  • Комплекс для формирования FC бампов на кремниевых пластинах, SB2-Jet, Packeging Technologies, Германи
  • Комплекс для разделения пластин и извлечения годных кристаллов System DE35-ST, Royceinstruments, США
  • Рентгеноскопическая цифровая система контроля микросхем с функцией томографии XD7600NT, DAGE Precision Industries Ltd., Великобритания
  • Установка плазменной очистки YES G500, Yield Engeniering System, Inc., США
  • Автомат разварки выводов 64000 G5, F&K Delvotec GmbH, Германия
  • Линия герметизации корпусов методом роликовой шовной сварки с вакуумной печью и возможностью корпусирования в гелиевой среде HPS 9206, Pyramid Engineering Systems Ltd., Великобритания
  • Установка тестирования микросистем UltraFlex, Teradyne Inc., США
  • Зондовая установка для тестирования микросистем в составе пластин UF200A, TOKYO SEIMITSU CO., LTD, Япония