Содержание курса
Цель программы — совершенствование у слушателей профессиональных компетенций, необходимых для выполнения профессиональной деятельности в области ионно- и электронно-лучевых методов диагностики наноструктур и нанообъектов.
Программа включает в себя 3 модуля:
— диагностика наноразмерных структур, методами растровой электронной микроскопии;
— электронно-микроскопические методы диагностики;
— устройство и принцип работы растрового электронного микроскопа.
Обучение в каждом модуле предполагает как практические, так и лабораторные занятия.
Отличительной особенностью данной программы является сочетание теоретического обучения с возможностью практической деятельности с использованием комплекса современного оборудования, электронно-ионного растрового микроскопа HeliosNanoLab 650, электронного растрового микроскопа PhilipsXL 40.
Занятия проводят высококвалифицированные преподаватели Института Физики и прикладной математики и научные сотрудники лаборатории электронной микроскопии.
Занятия проводятся в случае набора группы не менее 8 слушателей.