Основы топологического проектирования систем на кристалле

Цель программы — повышение уровня квалификации специалистов в области проектирования элементной базы элементов интегральных схем, а также элементов интегральных сенсоров физических величин

Программа посвящена изучению основ работы сканирующего зондового микроскопа, особенностей исследования поверхности образцов в различных режимах СЗМ, точного определения параметров исследуемых объектов

Программа посвящена особенностям проектирования наноразмерных СВЧ-аналоговых интегральных схем с использованием САПР Cadence

Специалисты учатся разрабатывать технологические маршруты формирования КМОП-интегральных схем с наноразмерными проектными нормами, проектировать интегральные схемы на основе современных технологий

Программа посвящена изучению методов и моделей для приборно-технологического моделирования различных элементов интегральных схем, а также особенностям калибровки моделей

Цель программы — повышение уровня квалификации специалистов в области проектирования элементов интегральных сенсоров физических величин

Цель программы — повышение уровня квалификации и формирование профессиональных компетенций в области производства приборов и систем интегральной наноэлектроники

У специалистов сформируются компетенции в области разработки и моделирования технологических маршрутов формирования КМДП-структур с наноразмерными проектными нормами

Цель программы — повышение профессионального уровня специалистов в области интегральной электроники, не являющихся специалистами в области фотоники